當(dāng)前位置：北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司>>光學(xué)測量>>光學(xué)材料測試>>雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地北京市

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

紡織服裝機械網(wǎng)采購部電話：0571-88918531QQ:2568841715

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時間：2025-07-25 11:30:30瀏覽次數(shù)：28次

聯(lián)系我時，請告知來自紡織服裝機械網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  光學(xué)測量

光學(xué)材料測試

光譜檢測

光學(xué)檢測

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：72條

所在地區(qū)：北京北京市

聯(lián)系人：仲貴纓

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。的設(shè)計（申請中）消除了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的必要性。氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。每束光束通過分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品資料下載

應(yīng)力儀雙折射測量系統(tǒng) 應(yīng)力測量應(yīng)力雙折射應(yīng)力測試應(yīng)力檢測玻璃應(yīng)力 birefringence Hinds Instrument Hinds儀器

雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

概述

Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術(shù)，具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品，該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器（PEM）。PEM的調(diào)制純度增強了Exicor屢獲殊榮的靈敏度，這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz，提供快速測量功能。雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計與PEM科學(xué)相結(jié)合，提供了一個重要特性：光學(xué)系統(tǒng)中沒有移動部件。移動部件的缺失產(chǎn)生高機械可靠性以及測量的可重復(fù)性，并允許同時測量幅度和角度。Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。的設(shè)計消除了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的必要性。氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。每束光束通過分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。

由Hinds儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。計算機從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進行連續(xù)測量。分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。當(dāng)在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預(yù)定的測量位置。結(jié)果以用戶指定的格式即時顯示。

EXICOR故事

多年來，交叉偏振器代表了雙折射測量技術(shù)的新水平，研究人員以及質(zhì)量控制專業(yè)人員都可以使用。雖然這個1或2 nm的靈敏度水平有時足夠了，“像素”量化，計量水平重復(fù)性和統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析能力缺失。 Hinds 儀器公司研發(fā)恩怨利用光彈性調(diào)制技術(shù)的二十多年經(jīng)驗，將這個相對快速（50 kHz），非機械，幾乎純正弦的“偏振切換器”應(yīng)用于雙折射測量挑戰(zhàn)。與傳統(tǒng)測量方法相比，結(jié)果是測量靈敏度數(shù)量級的兩倍，有時甚至提高了三倍。這項技術(shù)已被廣泛發(fā)布和記錄。交鑰匙式Exicor系統(tǒng)使雙折射測量變得直觀和簡單。它的個軟件允許對雙折射數(shù)據(jù)進行多重視圖和統(tǒng)計分析。