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德國Bruker手持式X熒光光譜儀

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產(chǎn)品簡介

手持式X熒光光譜儀重量輕（1.23kg，測量范圍Mg-U）、是基于X射線管技術(shù)的手持式XRF分析儀

詳細(xì)介紹

手持式X熒光光譜儀重量輕（1.23kg，測量范圍Mg-U）、是基于X射線管技術(shù)的手持式XRF分析儀。快速的分析速度和準(zhǔn)確性兩大特性。其他功能包括集成的彩色觸摸屏、X射線管、SMART®Grade 計(jì)時(shí)、SharpBeam®優(yōu)化X射線幾何形狀、硅漂移探測器，以及堅(jiān)固的外殼，該外殼經(jīng)過密封，可以防潮防塵。

S1 TITAN系列都采用了布魯克公司的SharpBeam®技術(shù)，并配置了布魯克技術(shù)X-Flash®SDD探測器，向您提供快速分析時(shí)間?？梢耘鋫涓鞣N校準(zhǔn)裝置，這些裝置經(jīng)過優(yōu)化，適用于各種樣品材料—包括各種合金、不同的采礦與環(huán)境樣品，以及受限制材料。

SharpBeam®技術(shù)對探測器和放射管幾何圖形進(jìn)行了優(yōu)化。經(jīng)優(yōu)化的幾何體具有許多理想的效果，包括：

1、降低功率要求
2、減輕重量
3、提高測量度
4、提高探測限制
5、延長電池壽命